Оборудование Rigaku
Корпорация
Область применения
Полупроводники: толщина/состав пленки и инструменты загрязнения пластины
Батарея: оперативный анализ аккумуляторов
Фотовольтаика: толщина, состав и свойства солнечных элементов
Металлы и сплавы: элементный, фазовый и остаточный анализ напряжений
Еда и пищевые ингредиенты
Фармацевтика: элементный/фазовый анализ молекулярной структуры
Полимеры, пластмассы и каучук: элементный анализ, размеры частиц и молекулярная структура
Нефть и нефтехимия
Химия
Нанотехнология: XRD, XRR и SAXS для определения характеристик в наномасштабе
Косметика и безрецептурные составы: анализ сырья для готовой продукции
Добыча и переработка: анализ руд, сырья, шлака, хвостов и металлов
Геология и полезные ископаемые: фазовый, элементный и химический анализ
Окружающая среда и загрязнение: сточные воды, почвы и отложения соответствии с ROHS
Безопасность и охрана
Криминалистика и консервация: элементный/фазовый анализ и молекулярная структура
Неразрушающий контроль (НК): осмотр на наличие внутренних дефектов, аномалий, формы и структуры
Передовые и новые материалы
Покрытия и тонкие пленки: от кремния на пластике до полупроводниковых пластин
Материаловедение: элементный/фазовый анализ и молекулярная структура
Оборудования для медико-биологической визуализации
Список оборудования
Automate II
Cистема измерения остаточного напряжения микрозоны рентгеновским излучением. Высокоточное определение остаточного напряжения в микрозоне как методом изо, так и методом бокового наклона.
HyPix-3000
Компактный рентгеновский детектор со счетом фотонов. Двумерный полупроводниковый рентгеновский детектор.
MiniFlex
Настольный прибор для порошковой рентгеновской дифракции (XRD). Качественный и количественный фазовый анализ поликристаллических материалов.
MiniFlex XpC
Компактный рентгеновский дифрактометр для контроля качества
SmartLab
Автоматизированный многоцелевой рентгеновский дифрактометр (XRD) с программным обеспечением GUIDANCE. Порошковая дифракция, метрология тонких пленок, МУРР, рассеяние в плоскости, измерения операндов.
SmartLab SE
Многоцелевая рентгеновская дифракционная система со встроенным интеллектуальным наведением. Дифракция на порошке, дифракция на тонкой пленке, SAXS, полюсная фигура, остаточное напряжение и эксперименты без окружающей среды
Ultima IV
Автоматизированный многоцелевой рентгеновский дифрактометр (XRD). Дифракция на порошке, дифракция на тонкой пленке, SAXS, полюсная фигура, остаточное напряжение и эксперименты в плоскости.
XSPA-400 ER
Рентгеновский бесшовный пиксельный матричный детектор. Детектор 0,1 и 2D пикселей с высоким энергетическим разрешением.
Micro-Z CL
Рентгенофлуоресцентный анализатор хлора с дисперсией по длине волны. Анализ сверхнизкого содержания хлора в нефти и сопутствующих продуктах.
Mini-Z
Настольный одноэлементный ХRF-анализатор с дисперсией по длине волны. Высокоточный и высокочувствительный элементный анализ.
Mini-Z Sulfur
Рентгенофлуоресцентный анализатор серы (S) с дисперсией по длине волны. Измерение сверхнизкого содержания серы в нефтяном топливе (ULSD).
Simultix 15
Рентгенофлуоресцентный спектрометр с синхронной дисперсией выше длины волны трубки. Высокопроизводительный элементный анализ твердых тел, порошков и сплавов.
Supermini 200
Мощный настольный последовательный спектрометр WDXRF. Элементный анализ твердых тел, жидкостей, порошков, сплавов и тонких пленок.
ZSX Primus
Рентгенофлуоресцентный спектрометр с последовательной дисперсией по длине волны. Элементный анализ твердых тел, жидкостей, порошков, сплавов и тонких пленок.
ZSX Primus 400
XRF-спектрометр с последовательной дисперсией по длине волны для больших образцов. Элементный анализ твердых тел, жидкостей, порошков, сплавов и тонких пленок.
ZSX Примус III+
Рентгенофлуоресцентный спектрометр с последовательной дисперсией по длине волны выше трубки. Элементный анализ твердых тел, жидкостей, порошков, сплавов и тонких пленок.
ZSX Примус IV
Рентгенофлуоресцентный спектрометр с последовательной дисперсией по длине волны выше трубки. Элементный анализ твердых тел, жидкостей, порошков, сплавов и тонких пленок.
ZSX Primus IVi
Рентгенофлуоресцентный спектрометр с последовательной дисперсией по длине волны с трубкой ниже. Бескомпромиссный рентгеновский анализ жидкостей, сплавов и металлов с покрытием.
NEX CG II
Энергодисперсионный рентгеновский флуоресцентный спектрометр следующего поколения с декартовой геометрией. Расширенный элементный анализ для промышленного контроля качества для передовых исследовательских приложений.
NEX DE VS
Энергодисперсионный рентгеновский флуоресцентный спектрометр (EDXRF) с переменным размером пятна. Элементный анализ твердых тел, жидкостей, порошков, сплавов и тонких пленок.
NEX DE
Энергодисперсионный рентгеновский флуоресцентный спектрометр высокого разрешения (EDXRF). Элементный анализ твердых тел, жидкостей, порошков, сплавов и тонких пленок.
NEX QC
Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный анализатор (EDXRF). Элементный анализ твердых тел, жидкостей, порошков, сплавов и тонких пленок.
NEX QC+
Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный анализатор высокого разрешения (EDXRF). Элементный анализатор твердых тел, жидкостей, порошков, сплавов и тонких пленок.
NEX QC+ QuantEZ
Энергодисперсионный рентгеновский флуоресцентный спектрометр высокого разрешения (EDXRF). Элементный анализ твердых тел, жидкостей, порошков, сплавов и тонких пленок.
NEX LS
Энергодисперсионный анализатор процессов (EDXRF). Сканирование толщины/состава покрытия в режиме реального времени.
NEX OL
Технологический энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный анализатор. Элементный анализ технологического процесса в режиме реального времени.
ACTOR 2
Автоматизированный робот для ориентации и извлечения кристаллов. Автоматический монтаж образцов, рентгеновский скрининг монокристаллов и сбор данных.
EIGER R series
Детекторы рентгеновского излучения со счетом фотонов высокого разрешения от Dectris. Детекторы рентгеновского излучения для дифракции рентгеновских лучей на монокристаллах.
HyPix-6000HE
Гибридный рентгеновский детектор со счетом фотонов. Детектор гибридного счета фотонов большой площади для дифракции рентгеновских лучей на монокристалле.
HyPix-Arc 100°
Изогнутый детектор рентгеновского излучения со счетом фотонов.
HyPix-Arc 150°
Изогнутый детектор рентгеновского излучения со счетом фотонов
HyPix-Bantam
Компактный детектор счета фотонов для дифракции рентгеновских лучей на монокристалле. 2D полупроводниковый рентгеновский детектор.
.png)
Intelligent Goniometer Head (IGH)
Моторизованная головка гониометра с автоматическим центрированием оптического объекта. Минимальный профиль, автоматизированная головка гониометра со встроенным интеллектом.
XtaLAB mini II
Настольный монокристаллический рентгеновский дифрактометр.
XtaLAB Synergy Custom
Индивидуальная монокристаллическая дифракционная система с вращающимся анодным генератором Microfocus. Рентгеноструктурное определение кристаллической структуры и SAXS для макромолекул.
XtaLAB Synergy Flow
Интеллектуальная автоматизация рабочего процесса. Автоматический сбор данных, повышенная производительность и стандартизированный рабочий процесс.
XtaLAB Synergy-DW VHF
Рентгеновский дифрактометр с вращающимся анодом с двумя длинами волн и детектором рентгеновского излучения НРС. Совершенный монокристаллический рентгеновский дифрактометр для широкого спектра кристаллографических приложений.
XtaLAB Synergy-ED
Полностью интегрированный электронный дифрактометр
XtaLAB Synergy-i
Полноразмерный дифрактометр для химической кристаллографии. Монокристаллический рентгеновский дифрактометр, созданный на основе новейших технологий для структурного анализа образцов малых молекул.
XtaLAB Synergy-R
Высокопоточный рентгеновский дифрактометр с вращающимся анодом. Мощная и быстрая система для рентгеноструктурного анализа монокристаллов.
XtaLAB Synergy-S
Рентгеновский дифрактометр с одним или двумя микрофокусами для всех ваших потребностей в кристаллографии. Быстрый и маневренный монокристаллический рентгеновский дифрактометр для трехмерного анализа структуры малых молекул.
XtalCheck-S
Автоматизированная рентгеновская кристаллография IN SITU. Скрининг белковых кристаллов на монокристаллическом рентгеновском дифрактометре.
CT Lab GX
Микро-КТ ( компьютерный томограф ). Образец остается неподвижным, как на медицинском компьютерном томографе, что позволяет легко монтировать образцы сложной формы или те, которые подключены к устройствам на месте. Сочетание мощного (90 кВ — 8 Вт или 130 кВ — 39 Вт) источника рентгеновского излучения и компактной геометрии гентри обеспечивает сверхбыстрое сканирование. Компьютерную томографию можно выполнить за 3,9 секунды на максимальной скорости. Высокоскоростная функция открывает возможность экспериментов с временным разрешением (4D) CT и контроля качества CT.
CT Lab НX
Настольный микро-КТ ( компьютерный томограф ). Регулируемые SOD ( расстояние от источника до объекта ) и SDD (расстояние от источника до детектора) делают этот настольный микроКТ-сканер гибким. Он охватывает от 2,1 мкм воксельного разрешения в режиме высокого разрешения до 200 мм FOV ( поле зрения ) в режиме большого FOV. CT Lab HX оснащен источником рентгеновского излучения высокой мощности 130 кВ мощностью 39 Вт. Настройки источника рентгеновского излучения и рентгеновские фильтры регулируются для оптимизации энергии рентгеновского излучения для различных материалов и размеров образцов.
Nano3DX
Компьютерный томограф с субмикронным разрешением. Геометрия параллельного луча в сочетании со сверхъярким источником рентгеновского излучения с вращающимся анодом мощностью 1200 Вт повышает контрастность мягких материалов, которые обычно трудно визуализировать с помощью источников рентгеновского излучения высокой энергии. Рентгеновский анод можно выбрать из Cr (5,4 кэВ), Cu (8 кэВ) или Mo (17 кэВ) для низкоэнергетического и псевдомонохроматического излучения, чтобы максимизировать контраст для данного материала и размера образца. С объективом с самым высоким увеличением nano3DX может достигать воксельного разрешения 325 нм и истинного субмикронного (700 нм) пространственного разрешения .
Progeny
Портативный Рамановский спектрометр с длиной волны 1064 НМ для идентификации сырья. Проверка материалов и аутентификация.
Progeny ResQ
Портативный Рамановский анализатор с длиной волны 1064 НМ для анализа химической опасности. Быстрая химическая идентификация неизвестных веществ.
Progeny ResQ FLX
Расширенный анализатор наркотиков.
ResQ CQL
Портативный Рамановский анализатор с длиной волны 1064 НМ для обнаружения взрывчатых веществ и наркотиков.
TXRF 3800e
Метрология поверхностного загрязнения. Измерение элементного загрязнения в отдельных точках или с помощью полных карт пластин.
TXRF 3760
Метрология поверхностного загрязнения. Измерение элементного загрязнения в отдельных точках или с помощью полных карт пластин.
TXRF310Fab
Метрология загрязнения поверхности пластин с помощью TXRF. Измерение поверхностного загрязнения микроэлементами.
TXRF-V310
Метрология загрязнения поверхности пластин с помощью VPD-TXRF. Измерение загрязнения поверхности ультрамикроэлементами
WaferX 310
Встроенный одновременный спектрометр WDXRF. Измерение толщины пленки и состава на офсетных пластинах.
WDA-3650
Синхронный спектрометр WDXRF. Измерение толщины и состава пленки на пластинах и дисках с носителями.
AZX 400
XRF-спектрометр с последовательной дисперсией по длине волны для больших образцов. Измерение толщины пленки и состава на больших и тяжелых образцах, пластинах и дисках с носителями.
MFM310
Технологический инструмент XRR, XRF и XRD для метрологии FAB.
ONYX 3000
Поточный неразрушающий контроль и метрология пластин. Гибридная конфигурация/автоматизированный рентгеновский анализ, 3D-сканирование и 2D-микроскоп для измерения толщины пленки и состава на офсетных и узорчатых пластинах.
XHEMIS EX-2000
Метрологический инструмент XRR и XRF-диапазона для сплошных пластин диаметром до 200 мм.
BioSAXS-2000 nano
Cистема камер KRATKY с малоугольным рентгеновским рассеянием (SAXS). Малоугловое рассеяние макромолекул.
Confocal Max-Flux SAXS optic
Cпециализированная оптика для использования в приложениях SAXS.
NanoMAX
Мало и широкоугольная система рассеяния рентгеновских лучей KRATKY.
NANOPIX
Прибор для мало и широкоугольного рассеяния рентгеновских лучей. Расширенный SAXS/WAXS для анализа наноструктуры.
SmartLab
Автоматизированный многоцелевой рентгеновский дифрактометр (XRD) с программным обеспечением GUIDANCE. Порошковая дифракция, метрология тонких пленок, МУРР, рассеяние в плоскости, измерения операндов.
STA8122
Синхронный термический анализатор. Измеряет изменение веса и эндотермическую или экзотермическую реакцию.
DSCvesta
Дифференциальный сканирующий калориметр. Характеризует прирост/потери тепла, связанные с фазовыми переходами.
DSC8231
Дифференциальный сканирующий калориметр. Характеризует прирост/потери тепла, связанные с фазовыми переходами.
High-temperature DSC
Высокотемпературный дифференциальный сканирующий калориметр. Характеризует прирост/потери тепла, связанные с фазовыми переходами.
ТМА8311
Термомеханический анализатор. Измерение изменения механических свойств в зависимости от температуры.
STA8122/HUM
STA с контролем влажности. Измеряет изменения веса и эндотермические или экзотермические реакции.
ТМА/HUM
ТМА с контролируемой влажностью. Измеряет изменения механических свойств в зависимости от температуры и влажности.
TG-FTIR
Синхронный термогравиметрический дифференциальный термический анализ с преобразованием фурье инфракрасная спектроскопия высокотемпературный дифференциальный сканирующий калориметр.
Обращаем Ваше внимание!
На сайте представлен не весь перечень оборудования.
Для получения детальной информации и доступных моделях просим оставить заявку либо обратиться по нашему контакту